球差校正透射电子显微镜测试
型号：FEI Theims Z，Titan Cubed Themis G2300，JEM-ARM200F
可做项目：TEM，STEM，EDS，Mapping，SAED，EELS
用途及功能：
形貌观察：对各种材料内部微结构进行二维显微形貌观察，包括常见的粉末、纳米颗粒形貌和粒径观察；配合三维重构可以得到三维立体形貌；
结构分析：利用选区电子衍射、高分辨透射图像、高分辨扫描透射图像等分析材料的结构；
成分分析：配合能谱仪可以对样品元素做点、线、面、体分布分析，可以得到原子分辨率的元素面分布图像；
样品要求
常见问题及回答
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